IEC Portal de publicacions > Revistes i butlletins

Cerca ràpida
Cerca ràpida per   Ajuda
  Llistat d'articles Registres 1 a 3 (3 registres en total)  

El·lipsometria ràpida i espectroscòpica per a la caracterització de capes fines

 

 Autor/a: Antó i Roca, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Morenza i Gil, Josep Lluís

Matèries: El·lipsometria - Aplicacions científiques
Pel·lícules fines

Descripció física: P. 53 - 58

Títol de la col·lecció periòdica: Butlletí de les Societats Catalanes de Ciències Físiques, Químiques i Matemàtiques : segona època

Citació Bibliogràfica

 
Article sencer
Article sencer
 

L'El·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials

 

 Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Campmany i Guillot, Josep

Matèries: Materials - Anàlisi - Tècnica
El·lipsometria - Aparells i instruments
El·lipsometria

Descripció física: P. 4-11

Títol de la col·lecció periòdica: Revista de física

Citació Bibliogràfica

 
Article sencer
Article sencer
 

Ultrafine particles produced by plasma enhanced chemical vapor deposition -from SiH4, CH4, NH3 and B2H6 gas mixtures- for nanostructured ceramics aplications

 

 Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Costa, J. ; Viera, G.

Matèries: Partícules (Física nuclear)

Descripció física: P. 53-61

Títol de la col·lecció periòdica: Contributions to science

Citació Bibliogràfica

 
Article sencer
Article sencer
 
Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última
-

Dades de l´usuari/ària