IEC Portal de publicacions

Cerca Cerca avançada
Títol Autor/a
Col·lecció Matèria
Any d'edició ISBN
Entitat responsable Tipus de publicació
Cerca exhaustiva
 
 
 
 
Resultat de la cerca Registres 1 a 1 (1 registres en total)
Caracterització de material "silicon on insulator" (SOI/SIMOX) realitzat per implantació d'oxigen mitjançant espectroscòpia en freqüència de la fotoconductivitat (PCFRS)
-- Article --
 Autor/a: Homewood, K. Peter ; Hemment, Peter L.F. ; Pérez Rodríguez, Alejandro ; Lourençó, M. A.
 Matèria:   Fotoconducció
 Publicació: Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer
 Col·lecció: Actes ; 12 		Veure fitxa
Fitxa completa
Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última

Dades de l´usuari/ària