IEC Portal de publicacions

Cerca Cerca avançada
Títol Autor/a
Col·lecció Matèria
Any d'edició ISBN
Entitat responsable Tipus de publicació
Cerca exhaustiva
 
 
 
 
Resultat de la cerca Registres 1 a 1 (1 registres en total)
Comparació de perfils d'implantació obtinguts per electrochemical CV profiling, spreading resistance i SIMS
-- Article --
 Autor/a: Bota Ferragut, Sebastián Antonio ; Esteve i Tintó, Jaume ; Montserrat, J. ; Morante i Lleonart, Joan Ramon ; Herms i Berenguer, Atilà
 Matèria:   Circuits integrats
 Publicació: Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer
 Col·lecció: Actes ; 12 		Veure fitxa
Fitxa completa
Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última

Dades de l´usuari/ària