Portal de publicacions
nove...leName=
|
Referència: 378
|
|
Autor: Tura i Soteras, Josep M. ; Rodés i Teixidor, Joan ; Traveria i Cros, Adolf
Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl.liques en patologia humana / Josep M. Tura i Soteras, Joan Rodés i Teixidor, Adolf Traveria i Cros
Data d'edició: 1989
Descripció física: 172 p., 4 p. de làm. col.: il.l. ; 24 cm
Entitats:
Institut d'Estudis Catalans. Secció de Ciències
ISBN: 84-7283-034-9
Col·lecció: Arxius de la Secció de Ciències ; 89. Física i Medicina; 1
Editorial: IEC
Text complet
|
|
|
|
|
|
|