IEC Portal de publicacions nove...leName=

Referència: 378


Autor: Tura i Soteras, Josep M. ; Rodés i Teixidor, Joan ; Traveria i Cros, Adolf

Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl.liques en patologia humana / Josep M. Tura i Soteras, Joan Rodés i Teixidor, Adolf Traveria i Cros

Data d'edició: 1989
Descripció física: 172 p., 4 p. de làm. col.: il.l. ; 24 cm
Entitats: Institut d'Estudis Catalans. Secció de Ciències
ISBN: 84-7283-034-9
Col·lecció: Arxius de la Secció de Ciències ; 89. Física i Medicina; 1
Editorial: IEC


Text complet   Text complet

Afegir a la cistella
  18,10 €  
 

Dades de l´usuari/ària