Portal de publicacions null

Resultat de la cerca

Registres 1 a 7 (7 registres en total)

---

Caracterització òptica i creixement de a-Si:H -- Article --  Autor/a: Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Andújar Bella, José Luis ; Morenza i Gil, Josep Lluís  Matèria:   Trobades Científiques de la Mediterrània (1988 : Maó) Òptica  Publicació: Tècniques fisiques d'anàlisi : Trobades Científiques de la Mediterrània / [organitzadors:] Institut d'Estudis Catalans ; Institut Menorquí d'Estudis  Col·lecció: Actes ; 10

Fitxa completa

---

El·lipsometria ràpida i espectroscòpica per a la caracterització de capes fines -- Article --  Autor/a: Antó i Roca, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Morenza i Gil, Josep Lluís  Matèria:   El·lipsometria - Aplicacions científiques Pel·lícules fines  Publicació: Butlletí de les Societats Catalanes de Ciències Físiques, Químiques i Matemàtiques : segona època

Fitxa completa

---

Espectrometria de masses quadrupolar aplicada a l'estudi de plasmes de baixa pressió i baixa temperatura -- Article --  Autor/a: Costa i Balanzat, Josep ; Bertran Serra, Enric ; Andújar Bella, José Luis ; Sardin Charles, Georges  Matèria:   Espectrometria de masses Plasma (Gasos ionitzats)  Publicació: Tècniques físiques de caracterització i anàlisi : IX Trobades Científiques de la Mediterrània

Fitxa completa

---

L'El·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials -- Article --  Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Campmany i Guillot, Josep  Matèria:   Materials - Anàlisi - Tècnica El·lipsometria - Aparells i instruments El·lipsometria  Publicació: Revista de física

Fitxa completa

---

Preparació i caracterització de capes fines de a-Si:H -- Article --  Autor/a: Andújar Bella, José Luis ; Andreu Batallé, Jordi ; Asensi López, José Miguel ; Bertomeu Balagueró, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Delgado Nieto, Juan Carlos ; Kasaneva Reinoso, Jorge Francisco ; Morenza i Gil, Josep Lluís ; Roch Cunill, Carles ; Sardin, Georges ; Serra Rodríguez, Julia  Matèria:   Silici - Propietats elèctriques Fotoconductivitat  Publicació: Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer  Col·lecció: Actes ; 12

Fitxa completa

---

Tècnica d'anàlisi el·lipsomètrica de fase modulada en el rang visible - ultraviolat -- Article --  Autor/a: Campmany i Guillot, Josep ; Canillas Biosca, Adolf ; Pascual Miralles, Esther ; Bertran Serra, Enric  Matèria:   El·lipsometria  Publicació: Tècniques físiques de caracterització i anàlisi : IX Trobades Científiques de la Mediterrània

Fitxa completa

---

Ultrafine particles produced by plasma enhanced chemical vapor deposition -from SiH4, CH4, NH3 and B2H6 gas mixtures- for nanostructured ceramics aplications -- Article --  Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Costa, J. ; Viera, G.  Matèria:   Partícules (Física nuclear)  Publicació: Contributions to science

Fitxa completa

---

Pàgina 1 de 1

Primera Anterior Anar a la pàgina: Següent Última