IEC Portal de publicacions null

Cerca Cerca avançada
Títol Autor/a
Col·lecció Matèria
Any d'edició ISBN
Entitat responsable Tipus de publicació
Cerca exhaustiva
 
 
 
 
Resultat de la cerca Registres 1 a 4 (4 registres en total)

Característica Tensión-Corriente a baja polarización en estructuras MIM con trampas en la capa fina aislante
-- Article --
 Autor/a: Aymerich Humet, Xavier ; Millán, J. ; Serra i Mestres, Francesc
 Matèria:   Buit
Reunió Espanyola del Buit i les Seves Aplicacions (5a : 1979 : Barcelona)
 Publicació: Conferències i comunicacions
Veure fitxa
Fitxa completa

Caracterització espectroscòpica i modificació nanomètrica de superfícies amb STM
-- Article --
 Autor/a: Aymerich Humet, Xavier ; Pérez Murano, Francesc ; Barniol i Beumala, Núria ; Masó, Joan
 Matèria:   Anàlisi espectral
Microscòpia d'escombratge per efecte túnel
Silici - Propietats elèctriques
 Publicació: Tècniques físiques de caracterització i anàlisi : IX Trobades Científiques de la Mediterrània
Veure fitxa
Fitxa completa

Influencia de la capa fina aislante en la característica estática de conmutación en una estructura metal-aislante-Si (n) - Si (p+)
-- Article --
 Autor/a: Aymerich Humet, Xavier ; Millán, J. ; Serra i Mestres, Francesc
 Matèria:   Buit
Reunió Espanyola del Buit i les Seves Aplicacions (5a : 1979 : Barcelona)
 Publicació: Conferències i comunicacions
Veure fitxa
Fitxa completa

L'Òxid de silici a l'estructura MOS
-- Article --
 Autor/a: Suñé, Josep M. ; Aymerich Humet, Xavier ; Barniol i Beumala, Núria ; Farrés i Berenguer, Esteve ; Placencia Millan, Iolanda ; Martín Antolín, Joan Ferran
 Matèria:   Òxids
Silici
 Publicació: Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer
 Col·lecció: Actes ; 12
Veure fitxa
Fitxa completa

Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última

Dades de l´usuari/ària