Portal de publicacions
null
Catàleg
Col·leccions bibliogràfiques
Revistes i butlletins
Obres
destacades
Botiga
Novetats editorials
Cerca
Cerca avançada
Títol
Autor/a
Col·lecció
Matèria
Any d'edició
ISBN
Entitat responsable
Tipus de publicació
Monografies
Publicacions periòdiques
Articles
Cerca exhaustiva
Ajuda
Resultat de la cerca
Registres
1
a
1
(
1
registres en total)
Comparació de perfils d'implantació obtinguts per
electrochemical CV profiling, spreading resistance
i SIMS
-- Article --
Autor/a:
Bota Ferragut, Sebastián Antonio
;
Esteve i Tintó, Jaume
;
Montserrat, J.
;
Morante i Lleonart, Joan Ramon
;
Herms i Berenguer, Atilà
Matèria:
Circuits integrats
Publicació:
Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer
Col·lecció:
Actes ; 12
Fitxa completa
Pàgina
1
de
1
Primera
Anterior
Anar a la pàgina:
Següent
Última
Consultes i
suggeriments
Informació per
als distribuïdors
Dades de l´usuari/ària
Adreça electrònica
Contrasenya
Alta d´usuari/ària